日本Union精密厚度測量顯微鏡

型號:THS
品牌：日本UNION

厚度測量顯微鏡 原理：
THS是一款非接觸式的光學(xué)測量系統(tǒng)。它采用光學(xué)對焦檢測原理。THS采用上下兩套光學(xué)系統(tǒng)，各配置單獨(dú)的光學(xué)對焦系統(tǒng)，用于觀察工件的位置和形狀，測量厚度可達(dá)10mm。THS光學(xué)系統(tǒng)，操作簡單，而且，裂像會(huì)清晰的顯示在顯示器中。
THS厚度測量原理是基于UNION*的光學(xué)測量原理。THS有上下兩套光學(xué)系統(tǒng)，每個(gè)系統(tǒng)都有精密的對焦裝置，對焦裝置內(nèi)有一個(gè)內(nèi)置的裂像。


厚度測量顯微鏡 特點(diǎn)：
即使工作臺上沒有放置工件，顯示器上也會(huì)顯示裂像圖像，裂像圖像可通過上下光學(xué)系統(tǒng)簡單的辨別。
此設(shè)備通過上下兩個(gè)鏡頭對零件兩個(gè)面進(jìn)行聚焦，以下鏡頭為基準(zhǔn)，上鏡頭進(jìn)行聚焦測量，從而測量出被測零件的厚度。不但精度可達(dá)1微米，而且采用Union光學(xué)株式會(huì)社專有的裂像輔助對焦系統(tǒng)可以的減少人為誤差從而達(dá)到精準(zhǔn)測量。此設(shè)備測厚尺寸為25mm。



厚度測量顯微鏡 測量步驟

A、先將上下兩鏡頭在不加任何測量件的情況下同時(shí)聚焦，此時(shí)兩個(gè)清晰的裂像標(biāo)記出現(xiàn)在顯示器上。然后，將Z軸數(shù)字計(jì)數(shù)器置零。（如圖）
B、將樣品放置在顯微鏡工作臺上, 然后移動(dòng)下鏡頭聚焦于樣品的底部。（如圖）
C、當(dāng)下鏡頭聚焦到測量零件表面后，再移動(dòng)上鏡頭的調(diào)焦旋鈕。當(dāng)裂像指示器清楚的聚焦在測量樣品表面時(shí)，此時(shí)讀數(shù)器上顯示的數(shù)值即為所測樣品的厚度 （如圖）

厚度測量顯微鏡 應(yīng)用行業(yè)：
測量范圍為0~10mm，因此應(yīng)用范圍廣泛。

開罐器的測量：
可以量測開罐器的各個(gè)部分(score residual, etc.)




測量蓋子凹槽的深度(score residual, etc.)




Wafer減薄行業(yè)厚度測量、電池行業(yè)防爆彈片厚度測量等等


Union厚度測量顯微鏡與激光測量的區(qū)別

THS光學(xué)測量，不僅可以測量， 還可以觀察測量點(diǎn)的表面情況	激光測量，僅可以測量