TP200 觸發(fā)式測頭

采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和精確的3D輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機械式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。TP200系統(tǒng)組件包括：
? TP200測針模塊 — 選擇固定超程測力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測力）或LF（低測力）
? PI 200測頭接口
? SCR200測針交換架

關(guān)于TP200

TP200系統(tǒng)組件包括：

• TP200或TP200B測頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動公差）

• TP200測針模塊 — 選擇固定超程測力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測力）或LF（低測力）

• PI 200測頭接口

• SCR200測針交換架

還有一種EO模塊（長超程），超程測力與SF相同，但工作范圍更大，并在測頭Z軸方向提供保護。

特性與優(yōu)點

• 應(yīng)變片技術(shù)具有的重復(fù)性和精確的三維輪廓測量

• 零復(fù)位誤差

• 無各向同性影響

• 六向測量能力

• 測針測量距離達100 mm（GF測針）

• 快速測頭模塊交換，無需重新標(biāo)定測尖

• 壽命 >1 000萬次觸發(fā)

TP200 / TP200B測頭本體

      TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和精確的三維輪廓測量，即使配用長測針時也不例外。

傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。

TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標(biāo)測量機傳導(dǎo)振動或在移動速度很高的情況下使用長測針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問題。

請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測針。

 TP200規(guī)格




摘要	TP200	TP200B
主要應(yīng)用	需要高精度的數(shù)控坐標(biāo)測量機。	與TP200一樣，但當(dāng)出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時。
傳感器方向	六軸：±X、±Y、±Z	六軸：±X、±Y、±Z
單向重復(fù)性 (2s µm)	觸發(fā)水平1：0.40 µm 觸發(fā)水平2：0.50 µm	觸發(fā)水平1：0.40 µm 觸發(fā)水平2：0.50 µm
XY（2D）輪廓形式測量偏差	觸發(fā)水平1：±0.80 µm 觸發(fā)水平2：±0.90 µm	觸發(fā)水平1：±1 µm 觸發(fā)水平2：±1.2 µm
XYZ (3D) 輪廓測量偏差	觸發(fā)水平1：±1 µm 觸發(fā)水平2：±1.40 µm	觸發(fā)水平1：±2.50 µm 觸發(fā)水平2：±4 µm
測針交換的重復(fù)性	SCR200：±0.50 µm（） 手動：±1 µm（）	SCR200：±0.50 µm（） 手動：±1 µm（）
測力（測尖）	XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N	XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N
超程測力（位移為0.50 mm時）	XY平面（SF/EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF/EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N	XY平面（SF/EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF/EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N
重量（測頭傳感器和模塊）	22 g	22 g
最長加長桿（如配在PH10系列測座上）	300 mm	300 mm
推薦的測針長度（M2測針系列）	SF/EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF	SF/EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF
安裝方式	M8螺紋	M8螺紋
適合的接口	PI200、UCC	PI200、UCC
測針模塊交換架	自動：SCR200 手動：MSR1	自動：SCR200 手動：MSR1
測針系列	M2	M2




 TP200測針模塊

測針模塊通過高重復(fù)性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭超程保護功能。

有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的超程測力。




模塊	SF（標(biāo)準(zhǔn)測力）	LF（低測力）	EO（長超程）
應(yīng)用	一般使用。	小直徑測球或必須使用最小測力的場合。	額外超程使坐標(biāo)測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。
留言	測針最長可達100 mm，測球直徑 > 1 mm。	測球直徑小于1 mm。	與SF的超程測力相同。 測頭Z軸的額外超程為8 mm。




 

SCR200交換架

 SCR200可對最多六個TP200測針模塊進行自動高速交換。SCR200由獨立的測頭接口 — PI200供電，并可確保安全的測針交換。SCR200套件可包含低測力和標(biāo)準(zhǔn)測力組件，每一種套件都包含一個SCR200加上三個測力相同的測針模塊.