產(chǎn)品特點(diǎn) 

優(yōu)質(zhì)鑄鐵基座，經(jīng)長(zhǎng)期自然時(shí)效處理，剛性和穩(wěn)定性好；
測(cè)量附件齊全，使用范圍廣，可滿足不同的測(cè)量要求；
利用阿貝比較原理和采用了高精度的光柵測(cè)量系統(tǒng)，具有較高的測(cè)量精度；
采用進(jìn)口光柵系統(tǒng)及進(jìn)口細(xì)分硬卡，細(xì)分精度高，穩(wěn)定可靠；
測(cè)量主軸采用優(yōu)化方形設(shè)計(jì)，確保測(cè)量時(shí)運(yùn)動(dòng)性能的穩(wěn)定性；
與電腦連接，軟件功能強(qiáng)大，可對(duì)示值誤差和溫度造成的測(cè)量誤差進(jìn)行修正，且?guī)в凶詣?dòng)判別拐點(diǎn)功能；
外觀流線造型，美觀大方，新穎；
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產(chǎn)品用途
    貴陽(yáng)新天JD36-H高精度測(cè)長(zhǎng)儀是一種用于測(cè)量和相對(duì)測(cè)量的長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器，因其精確地應(yīng)用了阿貝比較原理和采用了高精密進(jìn)口光柵測(cè)量系統(tǒng)，因而具有較高的測(cè)量精度和可靠性。

    貴陽(yáng)新天JD36-H高精度測(cè)長(zhǎng)儀主要應(yīng)用于金屬加工工業(yè)，特別是在機(jī)器制造、工具及量具制造和儀器制造等企業(yè)計(jì)量室和各級(jí)專業(yè)計(jì)量部門。
與傳統(tǒng)的測(cè)長(zhǎng)儀不同的是：貴陽(yáng)新天JD36-H高精度測(cè)長(zhǎng)儀采用光柵數(shù)顯技術(shù),是光、機(jī)、電、算一體化的高技術(shù)產(chǎn)品，大大提高了儀器的準(zhǔn)確性和操作效率。同時(shí)，又增加了多種附件，提高了其“性"。
其主要測(cè)量對(duì)象包括：
a. 光滑圓柱形零件(軸、孔、塞規(guī)、環(huán)規(guī)等)；
b. 內(nèi)、外螺紋、螺紋塞規(guī)、螺紋環(huán)規(guī)的中徑；
c. 帶平行平面的零件(卡規(guī)、量棒、量塊)。
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技術(shù)參數(shù)

測(cè)量范圍（mm）：  a、 外尺寸：相對(duì)測(cè)量0～750  ，測(cè)量0～100
b、內(nèi)尺寸：使用小測(cè)鉤（伸入深度12，壁厚50）為10～480
使用大測(cè)鉤（伸入深度50，壁厚85）為30～450
使用電測(cè)裝置測(cè)量：用電測(cè)測(cè)鉤 為1～60，用萬(wàn)測(cè)鉤時(shí)為14～112測(cè)量分辨率： 0.1μ
儀器準(zhǔn)確度（20C±0.2C情況下）：外尺寸測(cè)量時(shí)，JD36儀器準(zhǔn)確度：0.3μm
JD36-H儀器準(zhǔn)確度：0.2μm
內(nèi)尺寸測(cè)量時(shí)，JD36儀器準(zhǔn)確度：0.7μm
JD36-H儀器準(zhǔn)確度：0.6μm
內(nèi)螺紋測(cè)量：內(nèi)螺紋中徑測(cè)量（mm）:使用小測(cè)鉤時(shí)（小徑為13～30）
使用大測(cè)鉤時(shí)（小徑為31～2×（70-壁厚））， 螺距：0.5～6
外螺紋中徑測(cè)量（mm）:至200，螺距1-6
測(cè)量力（N）：0、1.5、2.5
儀器示值變動(dòng)性:
JD36-H：外尺寸測(cè)量時(shí)  2σ≤0．1μm
內(nèi)尺寸測(cè)量時(shí) 2σ≤0．3μm
工作臺(tái)：安裝面積（mm ）約160×160
高度調(diào)節(jié)范圍 （ 0 ～100）mm，橫向行程 ： 25 mm
繞Y軸傾斜：±3°， 工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)：±4°
允許荷重：10kg
測(cè)帽內(nèi)徑配合尺寸：φ6H7
測(cè)帽桿與測(cè)帽內(nèi)徑配合的外徑尺寸：φ6g6儀器使用環(huán)境：室溫20℃±0.5℃，相對(duì)濕度不應(yīng)超過(guò)60%
儀器外形尺寸（mm）:長(zhǎng)X寬X高=1060×390×450
儀器凈重：170kg

軟件功能

● 外尺寸測(cè)量、外尺寸比較測(cè)量； ● 內(nèi)尺寸測(cè)量；
● 內(nèi)、外尺寸測(cè)量準(zhǔn)確度；
● 內(nèi)、外螺紋測(cè)量；
● 光柵示值區(qū)段修正、光柵示值線性修正、溫度修正；
● 鍵盤輸入數(shù)據(jù)、鍵盤修改數(shù)據(jù)、刪除坐標(biāo)點(diǎn)；
● 打開(kāi)文檔、保存坐標(biāo)點(diǎn)；
● 光柵數(shù)據(jù)圖形化并尋找轉(zhuǎn)折點(diǎn)；
● 測(cè)量結(jié)果導(dǎo)入Execl、打印測(cè)試結(jié)果