超聲波流量計(jì) 參考價(jià)：面議
超聲波流量計(jì)配備了DSP（數(shù)字信號(hào)處理器），并采用信號(hào)計(jì)算方法，以確保穩(wěn)定的測(cè)量。用超聲波來(lái)測(cè)量流體的流速，并根據(jù)流速計(jì)算出流速。傳感器安裝在水流的上游和下游，...
超聲波流量計(jì) 參考價(jià)：面議
超聲波流量計(jì)配備了DSP（數(shù)字信號(hào)處理器），并采用信號(hào)計(jì)算方法，以確保穩(wěn)定的測(cè)量。用超聲波來(lái)測(cè)量流體的流速，并根據(jù)流速計(jì)算出流速。傳感器安裝在水流的上游和下游，...
超聲波流量計(jì) 參考價(jià)：面議
超聲波流量計(jì)配備了DSP（數(shù)字信號(hào)處理器），并采用信號(hào)計(jì)算方法，以確保穩(wěn)定的測(cè)量。用超聲波來(lái)測(cè)量流體的流速，并根據(jù)流速計(jì)算出流速。傳感器安裝在水流的上游和下游，...
超聲波流量計(jì) 參考價(jià)：面議
超聲波流量計(jì)配備了DSP（數(shù)字信號(hào)處理器），并采用信號(hào)計(jì)算方法，以確保穩(wěn)定的測(cè)量。用超聲波來(lái)測(cè)量流體的流速，并根據(jù)流速計(jì)算出流速。傳感器安裝在水流的上游和下游，...
超聲波界面物位計(jì) 參考價(jià)：面議
超聲波界面物位計(jì)沉淀狀態(tài)是根據(jù)超聲波在界面上反射以及被接收的時(shí)間來(lái)計(jì)算的。超聲波從水中的傳感器發(fā)射出來(lái)，根據(jù)超聲波在界面上反射以及被接收的時(shí)間來(lái)計(jì)算沉降狀態(tài)。由...
超聲波物位計(jì) 參考價(jià)：面議
超聲波物位計(jì)●通過(guò)切換，可以選擇四個(gè)顯示屏幕主單元顯示可以在四個(gè)顯示屏幕之間進(jìn)行切換?！衿帘翁幚怼Ｆ帘翁幚砜梢詰?yīng)用于傳感器指向角內(nèi)的障礙物進(jìn)行測(cè)量。● 通信功能...
超聲波物位計(jì) 參考價(jià)：面議
超聲波物位計(jì)● 兩線制系統(tǒng)降低了安裝、布線和運(yùn)行成本。●四個(gè)顯示屏幕之間可以切換。主單元顯示可以在四個(gè)顯示屏幕之間進(jìn)行切換?！?屏蔽處理在傳感器的指向角內(nèi)的障礙...
條形錯(cuò)誤檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
條形錯(cuò)誤檢測(cè)儀條形錯(cuò)誤檢測(cè)傳感器采用可靠性高的激光器類(lèi)型，用兩根激光束比較芯線和包覆判定好壞。用線傳感器對(duì)通過(guò)激光束內(nèi)的電線端進(jìn)行形象化，檢測(cè)出條形錯(cuò)誤、芯線斷...
直角度測(cè)量器 參考價(jià)：面議
直角度測(cè)量器重量只有1.5公斤，因?yàn)榉较虮P(pán)也附有所以搬運(yùn)簡(jiǎn)單，是操作性出眾的直角測(cè)定器。
負(fù)載測(cè)試裝置 參考價(jià)：面議
負(fù)載測(cè)試裝置適合中型發(fā)電機(jī)輕負(fù)荷運(yùn)轉(zhuǎn)的碳對(duì)策●45/ 60kva發(fā)電機(jī)的最佳負(fù)荷測(cè)試裝置●因?yàn)槭鞘彝庖?guī)格，現(xiàn)場(chǎng)的帶入·移動(dòng)也對(duì)應(yīng)?！褚?yàn)樾⌒?#183...
X射線無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
X射線無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)用途:鋁壓鑄零件、機(jī)械零件、電器零件、樹(shù)脂成型品等全能型(一體構(gòu)造)，可檢查小型到中型鋁壓鑄零件，5軸多方向X射線透視檢查裝置。
X射線無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
X射線無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)應(yīng)用封裝底板、BGA、電子元件、器件、傳感器、樹(shù)脂等是追求在現(xiàn)場(chǎng)的易用性的安裝基板檢查用模型。是活用了東芝的X射線感測(cè)技術(shù)的封裝基板的焊錫檢查...
晶體方位測(cè)量裝置 參考價(jià)：面議
晶體方位測(cè)量裝置用途單晶硅/晶圓的結(jié)晶方位測(cè)量，支持Si、藍(lán)寶石、GaAs、GaP、InP、InSb、SiC等化合物。側(cè)角機(jī)構(gòu)可以高精度地測(cè)定單結(jié)晶錠和晶片的結(jié)...
晶體方位測(cè)量裝置 參考價(jià)：面議
晶體方位測(cè)量裝置用途單晶硅/晶圓的結(jié)晶方位測(cè)量，支持Si、藍(lán)寶石、GaAs、GaP、InP、InSb、SiC等化合物。側(cè)角機(jī)構(gòu)可以高精度地測(cè)定單結(jié)晶錠和晶片的結(jié)...
晶體方位測(cè)量裝置 參考價(jià)：面議
晶體方位測(cè)量裝置用途單晶硅/晶圓的結(jié)晶方位測(cè)量，支持Si、藍(lán)寶石、GaAs、GaP、InP、InSb、SiC等化合物。側(cè)角機(jī)構(gòu)可以高精度地測(cè)定單結(jié)晶錠和晶片的結(jié)...
非破壞檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
非破壞檢測(cè)系統(tǒng)是一種能分析小型精密零件、電子零件等內(nèi)部狀況的微聚焦X射線檢查裝置。用于電路板、電子器件、小型連接器、車(chē)載用小型電子部件等。
非破壞檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
非破壞檢測(cè)系統(tǒng)是一種能分析小型精密零件、電子零件等內(nèi)部狀況的微聚焦X射線檢查裝置。用于電路板、電子器件、小型連接器、車(chē)載用小型電子部件等。
非破壞檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
非破壞檢測(cè)系統(tǒng)用途:小型電子元件、模制品、樹(shù)脂、GFRP、CFRP、纖維等這是一種緊湊的高性能微型CT，采用高靈敏度的X射線檢測(cè)器，可對(duì)低吸收(比重小)的物體進(jìn)...
非破壞檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
非破壞檢測(cè)系統(tǒng)用途:小型電子元件、模制品、樹(shù)脂、GFRP、CFRP、纖維等這是一種緊湊的高性能微型CT，采用高靈敏度的X射線檢測(cè)器，可對(duì)低吸收(比重小)的物體進(jìn)...
非破壞檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
非破壞檢測(cè)系統(tǒng)通過(guò)為每一種X射線發(fā)生器搭配合適的檢測(cè)器，230kv模型能夠捕獲更多的軟X射線，以高對(duì)比度實(shí)現(xiàn)令人驚嘆的高畫(huà)質(zhì)，300kv模型提高了高能量區(qū)域的穿...
非破壞檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
非破壞檢測(cè)系統(tǒng)通過(guò)為每一種X射線發(fā)生器搭配合適的檢測(cè)器，230kv模型能夠捕獲更多的軟X射線，以高對(duì)比度實(shí)現(xiàn)令人驚嘆的高畫(huà)質(zhì)，300kv模型提高了高能量區(qū)域的穿...
非破壞檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
非破壞檢測(cè)系統(tǒng)450kv高能CT掃描儀通過(guò)最高管電壓450kv的高能X射線產(chǎn)生裝置，可以對(duì)大型部件和X射線透射嚴(yán)格的重金屬產(chǎn)品進(jìn)行CT拍攝。
非破壞檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
非破壞檢測(cè)系統(tǒng)450kv高能CT掃描儀通過(guò)最高管電壓450kv的高能X射線產(chǎn)生裝置，可以對(duì)大型部件和X射線透射嚴(yán)格的重金屬產(chǎn)品進(jìn)行CT拍攝。
指針型界限型量表 參考價(jià)：面議
指針型界限型量表因主軸可動(dòng)部使用軸承，所以耐久性很好，因?yàn)槭歉?dòng)電路設(shè)計(jì)，所以切斷其他泄漏電流。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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